同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理,可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片,塑料膜,纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
测量注意事项:
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
兰宇TT3100测厚仪:
1.测量速度快。不受温度变化影响。
2.精度高 :
3.稳定性好,
4、功能、数据、操作、全中文显示菜单。
5、有打印功能;可以依据需要选择连接电脑或者打印机。
6、保修3年
7、操作简单,平时使用无须校准
8、可以依据需要选配各种探头。
公司07年成立以来,一共研发生产出F1,F3 ,F400 , F05 , F1/90 , F10 ,高温F3,N1,N3,N400,N05、NF分体型、一体型等二十几个种类的探头,以及每一种探头的配套主机和它的配套附件。其中F3高温探头,F05/N05小管径探头为行业新产品。